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Deux nouveaux systèmes de test pour les dispositifs semi-conducteurs
Les configurations de test de semi-conducteurs prêtes à l'emploi réduisent le temps d'étalonnage et aident les chercheurs à obtenir des résultats cohérents du prototype à la production.
Tester de nouveaux dispositifs semi-conducteurs comme le carbure de silicium (SiC) et le nitrure de gallium (GaN) nécessite souvent des configurations compliquées qui prennent du temps à construire et à calibrer.Les ingénieurs et les chercheurs ont besoin de résultats précis lors des tests pour concevoir des produits fiables.
Le groupe Microtest lance deux nouveaux systèmes de test : Quasar200 et Pulsar600. Ces outils de test résolvent le problème d'une configuration compliquée grâce au plug-and-play, qui permet aux utilisateurs de commencer à tester des dispositifs à semi-conducteurs de puissance sans construire de bancs de test personnalisés ni effectuer de câblage complexe.Cela permet aux laboratoires et aux ingénieurs de gagner du temps tout en collectant des données fiables et reproductibles.
Le Quasar200 est conçu pour tester les dispositifs semi-conducteurs de puissance standard et milieu de gamme en silicium (Si), nitrure de gallium (GaN) et carbure de silicium (SiC).Il se concentre sur des mesures précises de courant continu et alternatif, ce qui le rend adapté à la recherche en laboratoire, à la caractérisation d'appareils et à l'élaboration de fiches techniques.
Le Pulsar600 est conçu pour les tests de courant et de puissance élevés, en particulier pour les onduleurs SiC et les systèmes automobiles.Il prend en charge les tests de court-circuit et de contrainte jusqu'à 1 000 A CC et plus de 10 000 A CA, aidant ainsi les ingénieurs à valider les performances et la sécurité des modules d'alimentation de nouvelle génération utilisés dans les véhicules électriques et les applications industrielles.
Les systèmes mesurent le fonctionnement des dispositifs semi-conducteurs sous des courants et des tensions élevés.Quasar200 est conçu pour tester les dispositifs au silicium, GaN et SiC utilisés dans l'électronique et les systèmes électriques.Il effectue des mesures DC et AC rapides et précises avec de faibles interférences.Le Pulsar600 étend cette capacité aux applications à courant très élevé, telles que les tests automobiles et d'onduleurs, gérant jusqu'à 1 000 ampères CC et plus de 10 000 ampères CA.
Les deux systèmes conservent des journaux d’audit détaillés pour suivre l’exactitude des données.Cela permet aux chercheurs et aux entreprises de faire correspondre les résultats de laboratoire avec les tests de production en usine lors de l’élaboration de fiches techniques ou de la qualification de nouveaux appareils.
La sécurité est intégrée aux deux systèmes.Ils comprennent des zones de test fermées et la protection SocketSafe d'ipTEST, qui isole l'alimentation lorsque l'équipement est ouvert ou que des défauts se produisent.Les prises à faible inductance réduisent le bruit électrique, améliorant ainsi la stabilité des tests.
Principales caractéristiques
Configuration plug-and-play : systèmes de test prêts à l'emploi qui éliminent le besoin d'installations sur mesure ou de connexions soudées.
Large prise en charge des appareils : compatible avec les appareils en silicium (Si), en nitrure de gallium (GaN) et en carbure de silicium (SiC).
Capacité de courant élevé : prend en charge les tests de courant ultra-élevé jusqu'à 1 000 A CC et 10 000 A+ CA, adapté aux onduleurs SiC et aux systèmes automobiles.
Précision des mesures : précision de ±0,1 % sur toutes les formes d'onde de tension et de courant.